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TSCQ1012 40~100G误码仪老化系统
TSCQ1012 设备是40GE/44.3G/56G/100G误码仪老化系统，同时支持8路光模块测试开发功能：40G/100G QSFP+/QSFP28的光模块，主要用于40GE/CPRI/64GFC/100GE/128GFC光模块/AOC开发测试。...
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Tera2102 10G~100G温控测试系统
Tera2102设备是40G/50G/100G温控测试系统，同时支持两路光模块不同温度下测试开发功能：第一路40G/50G/100G QSFP+/QSFP28的光模块，第二路是10G/25G SFP+/ SFP28的光模块，每个RF接口均可支持10G/11G/12G/14G/22G/24.3G/25.7G/28.05Gb/s速率, 主要用于10GE/16GFC/25GE/40GE/CPRI/10...